Guilin Sun
Ansys Employee

1: 可以用Bloch边界条件来扫描波长,只是每个波长仿真一次,用的时间较长而已,内存并不需要很多。参见 Ansys Insight: 用Bloch边界扫描波长的问题(也适合斜入射TFSF光源)

2:材料拟合当然可以改善:不过,在10到35微米之间材料库中的折射率数值是否可靠就不清楚了,请你自己确认。此波段折射率实部的色散几乎可以忽略,虚部也很小:


我倒是建议你用一个折射率数值就可以,不用材料库中的色散模型,看看结果如何?毕竟BFAST快很多。