Guilin Sun
Ansys Employee

这是一个常见问题,比较复杂,很多情况下都有一定近似,这是因为,器件需要均匀照明,但是要得到正确的远场分布,监视器边缘上的场应该几乎为零,很多时候很难同时满足,原因包括计算机性能、光源性质、器件对入射光的调控等。斜入射与正入射仿真方法没有大的区别,只是斜入射宽谱时可能需要特殊设置,或者只能单波长。
正确计算远场参见 Ansys Insight: 如何正确计算远场结果          (帖子中的图片不显示,我以后会修改)
因为是非周期结构,只能使用PML。
直接的方法是用高斯光源。只是此时器件上的照明不均匀,选择多大的高斯光束束斑是个问题。
你可能需要均匀照明,所以常见的情况是平面波类的光源,比如TFSF,此时只能单波长仿真,计算远场的监视器位于散射场内。因为少了入射的透射场,所以结果不一定正确。可以试用Source中的衍射平面波 Diffracted plane相当于平面波加了一个硬光澜。也可以用平面波加金属PEC孔径光阑(最好用前面的衍射平面波,因为如果界面有反射,将会被PEC全部反射回去,仍然有少量再次进入器件)。为减少大角度衍射光与PML作用产生发散,仿真区需要大一些。
请先测试看看,有问题再讨论,如果是具体方法中出现其它问题请另外发帖。