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[yang liu]

我想设计一种自上而下，分别是A/B/C的基元结构，若想扫描B的厚度 和C的直径 这两个参数对相位和透光率的影响，可以通过参数扫描的方法获得吗（由于B层厚度改变，故在扫描过程中，C层的zmax和zmin也随之改变，监视器的位置也随之改变）。请问大家这样应该怎么设置啊

[Guilin Sun]

 

可以呀，你将其min坐标选为A的Max，其Max选为 其Min加厚度，然后C的也类似，再扫描B的厚度。

zmin=getnamed(“A”,”z max”)

setnamed(“B”,”z min”,zmin)

setnamed(“B”,”z max”,zmin+Bthickness);

setnamed(“C”,”z min”,zmin+Bthickness);

setnamed(“C”,”z max”,zmin+Bthickness+Cthickness);

参数的意思就不讲了。

你需要在Model里面设置，或者用结构组设置。扫描的时候在Bthickness这个参数，参见 https://optics.ansys.com/hc/en-us/articles/360034922913-Creating-nested-parameter-sweeps